本书是根据我国高等学校关于《电工电子实验教学示范中心电子技术实验教学大纲》要求编写的集实验、课程设计于一体的实践性教材，旨在强化学生基本技能的综合练习，加强以传统电子电路设计为基础的工程设计训练。全书分为电子技术基础实验和课程设计与安装调试两个部分。 本书为高等学校本科教材，适用于自动化控制、生物......
内容简介《半导体器件物理与工艺(基础版)》内容简介：微电子学及其相关技术的迅速发展，现已成为整个信息时代的标志与基础。以半导体器件为核心的电子工业，已发展成为世界上规模最大的工业。培养该专业及相关的专业人才相当重要。施敏教授所著《半导体器件物理与工艺（第二版）》的简体中文版自出版以来，被多所院校相关......
GB／T 24621《低压成套开关设备和控制设备的电气安全应用指南》分为以下两个部分： ——第1部分：成套开关设备； ——第2部分：装有电子器件的控制设备。 本部分为GB／T 24621《低压成套开关设备和控制设备电气安全应用指南》的第1部分，是对低压成套开关设备电气安全技术要求的......
本标准由中国机械工业联合会提出。 本标准由全国光学和光子学标准化技术委员会（SAC/TC 103）归口。...
本标准等同采用SEMI MF 1630-0704《低温傅立叶变换红外光谱法测量硅单晶中Ⅲ、Ⅴ族杂质含量的测试方法》。 本标准与SEMI MF l630—0704相比，主要有如下变化： ——用实际测量到的红外谱图代替SEMI MF 1630—0704标准中的图2、图3。 用实验得到的......
GB／T 4315{光学传递函数》分为以下两个部分： ——第1部分：术语、符号； ——第2部分：测量导则。 本部分为GB／T 4315的第2部分。 本部分等同采用ISO 9335:1995《光学传递函数 测量原理和步骤》。 为便于使用，本部分还做了下列编辑性修改： ......
本标准由全国半导体设备和材料标准化技术委员会（SAC/TC 203）提出并归口。...
本标准修改采用SEMI MF 1982—1103《热解吸附气相色谱法评估硅片表面有机污染物的方法》。本标准对SEMI MF 1982—1103格式进行了相应调整。为了方便比较，在资料性附录B中列出了本标准章条和SEMI MF 1982—1103章条对照一览表。并对SEMI MF 1982—1103条......
本标准修改采用SEMI MF 1617-0304《二次离子质谱法测定硅和硅外延衬底表面上钠、铝和钾》。本标准对SEMI MF 1617-0304格式进行了相应调整。为了方便比较，在资料性附录B中列出了本标准章条和SEMI MF 1617—0304章条对照一览表。并对SEM1 1617—0304条款的......
本标准的附录A和附录B为资料性附录。 本标准由全国半导体设备和材料标准化技术委员会提出。...
本标准个性采用SEMI MF 1188-1105《用红外吸收法测量硅中间隙氧原子含量的标准方法》。 本标准由全国半导体设备和材料标准化技术委员会提出。...
本标准代替GB/T 14141-1993《硅外延层、扩散层和离子注入层薄层电阻的测定 直排四探针法》。 本标准由全国半导体设备和材料标准化技术委员会（SAC/TC 203）提出。...
本标准代替GB/T 14140.1《硅片直径测量法 光学投影法》和GB/T 14140，2《硅片直径测量法千分尺法》。 本标准由全国半导体设备和材料标准化技术委员会（SAC/TC 203）提出。...
本标准代替GB/T 14139-1993《硅外延片》。 本标准由全国半导体设备和材料标准化技术委员会提出。 本标准由全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员会归口。...
本标准的附录A和附录B为资料性附录。 本标准由全国半导体设备和材料标准经技术委员会提出。...
本标准修改采用SEMI MF 671—0705{硅及其他电子材料晶片参考面长度测试方法》。 本标准与SEMI MF 671—0705相比主要有如下变化： ——标准编写格式按GB／T 1．1要求进行编写； ——增加了前言内容。 本标准代替GB／T 13387--1992《电子材料晶片参考面长度......
本标准修改采用SEMI MF 84-1105《硅片电阻率测定四探针法》和SEMI MF 397-1106《硅棒电阻率测定两探针法》。 本标准由全国半导体设备和材料标准化技术委员会提出。 本标准由全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员会归口。...
GB／T205286使用基于平板视觉显示器工作的人类工效学要求》分为2个部分： ——第1部分：概述； ——第2部分：平板显示器的人类工效学要求。 本部分是GB／T20528的第2部分。 本部分等同采用ISO13406-2：2001《使用基于平板视觉显示器工作的人类工效学要求平板显示器的人类工......
本标准的附录A为资料性附录。 本标准由全国半导体设备和材料标准化技术委员会提出。...
本标准代替GB/T 10987-1989《光学系统 参数的测定》。 本标准由中国机械工业联合会提出。 本标准由全国光学和光子学标准化技术委员会（SAC/TC 103）归口。...
