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硅单晶中Ⅲ-Ⅴ族杂质的光致发光测试方法

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硅单晶中Ⅲ-Ⅴ族杂质的光致发光测试方法

最 低 价：￥13.70

定 价：￥18.00

作 者：本社 编 著

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出版时间：2010-1-1

I S B N：GB/T24574-2009

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    内容简介
    　　本标准的附录A和附录B为资料性附录。
    　　本标准由全国半导体设备和材料标准化技术委员会提出。

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