| 第1章 集成电路测试概述 1.1 集成电路测试的定义 1.2 集成电路测试的基本原理 1.3 集成电路故障与测试 1.4 集成电路测试的过程 1.5 集成电路测试的分类 1.6 集成电路测试的意义与作用 1.7 半导体技术的发展对测试的影响 第2章 数字集成电路测试技术 2.1 概述 2.2 典型的数字集成电路测试顺序 2.3 数字集成电路测试的特殊要求 2.4 直流参数测试 2.5 交流参数测试 2.6 功能测试 第3章 半导体存储器测试技术 3.1 存储器的组成及结构 3.2 存储器的失效模式和失效机理 3.3 存储器的故障模型及验证方法 3.4 图形算法在存储器测试中的作用 3.5 存储器的测试项目 3.6 内建自测试在存储器测试中的应用 3.7 存储器测试需要注意的问题 第4章 模拟集成电路测试技术 4.1 概述 4.2 模拟集成运算放大器测试技术 4.3 模拟集成比较器测试技术 4.4 影响运算放大器闭环参数测试精度的原因分析 4.5 集成稳压器测试技术 4.6 模拟开关集成电路测试技术 第5章 数模混合集成电路测试技术 5.1 概述 5.2 ADC、DAC测试的必要性 5.3 测试方法 5.4 基于DSP的测试技术 5.5 DAC测试技术 5.6 ADC测试技术 5.7 数模混合集成电路测试参数分析 5.8 DA 和AD 测试相关误差分析 第6章 DSP在混合电路测试中的应用 6.1 DSP概述 6.2 DSP测试基础 6.3 基于DSP的测试优点 6.4 基于DSP的功能测试 6.5 基于DSP的动态参数测试 6.6 混合信号电路对基于DSP的测试系统的要求 第7章 SOC测试技术 7.1 前言 7.2 SOC芯片对测试的要求 7.3 SOC中混合信号测试 7.4 SOC混合信号测试的发展方向 第8章IVDQ测试 8.1 引言 8.2 IDDQ测试检测的故障 8.3 IDDQ测试方法 8.4 IDDQ测试的局限性 8.5 △IDDQ测试 8.6 IDDQ内建电流测试 8.7 IDDQ可测试性设计 8.8 小结 第9章 DC-DC参数测试方法 第10章 集成电路测试系统 第11章 设计到测试的链接 第12章 测试接口板DIB设计技术 参考文献 |
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