| 第1章 光学显微分析 1.1 金相试样的制备 1.2 光学显微镜的构造和使用 1.3 偏光和相衬显微分析 1.4 显微摄影和暗室技术 1.5 定量金相分析 第2章 X射线衍射分析 2.1 德拜照像法及单相立方系粉末相的计算 2.2 用x射线衍射仪进行多相物质的相分析 2.3 点阵参数的精确测定 2.4 用直接对比法测定钢中残余奥氏体含量 2.5 用劳埃法测定单晶体取向 2.6 宏观应力的测定 2.7 微观应力的测定 第3章 电子显微分析 3.1 复型制造技术 3.2 透射电镜的构造及显微组织观察 3.3 金属薄膜的制备及薄晶体显微分析 3.4 电子衍射试验分析 3.5 扫描电镜及其观察 3.6 电子探针的结构及应用 第4章 其他近代材料测试技术 4.1 俄歇电子能谱实验 4.2 x射线光电子能谱实验 4.3 红外光谱法实验 4.4 热分析实验 4.5 质谱法实验 4.6 超声波探伤的原理及操作 4.7 核磁共振原理及应用 附录 参考文献 |
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