材料分析方法

.2.2倒易点阵／21
2.2.1倒易点阵中基本矢量的定义／21
2.2.2倒易阵胞的基本性质／22
2.2.3倒易点阵与倒易矢量／22
2.3布拉格定律／24
2.3.1布拉格方程的导出／25
2.3.2布拉格方程的讨论／26
2.4衍射矢量方程及厄瓦尔德图解／28
2.4.1衍射矢量方程／28
2.4.2厄瓦尔德图解／29
2.5x射线衍射方法／29
习题／30
第3章 x射线衍射强度
3.1电子对x射线的散射／32
3.2原子对x射线的散射／33
3.3单胞对x射线的散射与结构因数／34
3.3.1结构因数公式的推导／34
3.3.2几种常见点阵的结构因数计算／35
3.4多晶体x射线衍射束的强度／41
3.4.1衍射的积分强度／41
3.4.2衍射积分强度的表达式／4l
3.5多晶体x射线衍射方法／44
3.5.1多晶体衍射图像的形成／44
3.5.2德拜—谢乐法／45
3.5.3x射线衍射仪／51
习题／58
第4章 物相分析及点阵参数精确测定
4.1物相的定性分析／59
4.1.1定性分析基本原理／59
4.1.2粉末衍射卡片(pdf)／60
4.1.3粉末衍射卡片索引／61
4.1.4定性分析的基本过程／62
4.2物相定量分析原理与方法／64
4.2.1单线条法／65
4.2.2内标法／65
4.2.3k值法及参比强度法／66
4.2.4直接对比法——残余奥氏体测定／67
4.3点阵参数的精确测定／68
4.3.1误差的来源／68
4.3.2图解外推法／69
4.3.3最小二乘法／70
4.3.4标准样校正法／71
4.4非晶态物质的x射线衍射分析／72
4.4.1非晶态物质结构的主要特征／?2
4.4.2非晶态结构的径向分布函数／72
4.4.3非晶态物质的晶化／74
4.5晶粒尺寸的测定／76
4.5.1测试原理／76
4.5.2仪器宽化的校正／76
4.5.3测试方法／77
4.6薄膜厚度的测定／77
习题／77
第5章 宏观残余应力的测定
5.1物体内应力的产生与分类／?9
5.2x射线宏观应力测定的基本原理／80
5.3宏观应力测定方法／83
5.3.1同倾法／84
5.3.2侧倾法／86
5.4x射线宏观应力测定中的一些问题／88
5.4.1定峰方法／88
5.4.2应力常数k的确定／90
5.4.3影响宏观应力测量精度的因素／92
习题／93
第6章 多晶体织构的测定
6.1标准投影图／94
6.1.1极射赤面投影法／95
6.1.2乌氏网／95
6.1.3单晶体的标准投影图／98
6.2织构的种类及表征方法／100
6.2.1织构的种类／100
6.2.2织构表征方法／101
6.3丝织构的测定方法／107
6.4极图的测定方法／109
6.5反极图的测定方法／111
习题／113
第2篇 材料电子显微分析
第7章 电子光学基础
7.1电子波与电磁透镜／117
7.1.1光学显微镜的分辨率极限／117
7.1.2电子波的波长特征／117
7.1.3电磁透镜／118
7.2电磁透镜的像差与分辨率／120
7.2.1像差／120
7.2.2分辨率／121
7.3电磁透镜的景深和焦长／123
7.3.1景深／123
7.3.2焦长／123
习题／124
第8章 透射电子显微镜
8.1透射电子显微镜的结构与成像原理／125
8.1.1照明系统／125
8.1.2成像系统／127
8.1.3观察记录系统／129
8.2主要部件的结构和工作原理／130
8.2.1样品平移和倾斜装置(样品台)／130
8.2.2电子束倾斜与平移装置／131
8.2.3消像散器／131
8.2.4光阑／132
8.3透射电子显微镜分辨率和放大倍数的测定／133
习题／134
第9章 电子衍射
9.1概述／135
9.2电子衍射原理／136
9.2.1布拉格定律／136
9.2.2倒易点阵与厄瓦尔德球图解法／136
9.2.3晶带定理／139
9.2.4零层倒易截面／139
9.2.5结构因子——倒易阵点的权重／140
9.2.6偏离矢量与倒易阵点扩展／142
9.2.7电子衍射基本公式／144
9.3电子显微镜中的电子衍射／146
9.3.1有效相机常数／146
9.3.2选区电子衍射／146
9.3.3磁转角／147
9.4单晶电子衍射花样标定／148
9.4.1已知晶体结构衍射花样的标定／148
9.4.2未知晶体结构衍射花样的标定／150
9.4.3标准花样对照法／150
9.5复杂电子衍射花样／150
9.5.1超点阵斑点／150
9.5.2孪晶斑点／151
习题／153
第10章 晶体薄膜衍衬成像分析
10.1概述／154
10.2薄膜样品的制备方法／154
10.2.1基本要求／154
10.2.2工艺过程／155
10.3衍射衬度成像原理／157
10.4消光距离／159
10.5衍衬运动学／161
10.5.1基本假设／161
10.5.2理想晶体的衍射强度／162
10.5.3理想晶体衍衬运动学基本方程的应用／164
10.5.4非理想晶体的衍射强度／167
10.6晶体缺陷分析／168
10.6.1层错／168
10.6.2位错／170
10.6.3第二相粒子／174
习题／177
第11章 扫描电子显微镜
11.1电子束与固体样品作用时一产生的信号／179
11.2扫描电子显微镜的构造和工作原理／181
11.2.1电子光学系统(镜筒)／182
11.2.2信号收集处理、图像显示记录系统／183
11.2.3真空系统／183
11.3扫描电子显微镜的主要性能／184
11.3.1分辨率／184
11.3.2放大倍数／185
11.4表面形貌衬度原理及其应用／186
11.4.1二次电子成像原理／186
11.4.2二次电子形貌衬度的应用／187
11.5原子序数衬度原理及其应用／190
11.5.1背散射电子衬度原理及其应用／190
11.5.2吸收电子衬度原理／192
11.6背散射电子衍射分析及其应用／192
11.6.1背散射电子衍射工作原理／192
11.6.2背散射电子衍射装置的基本组成／196
11.6.3背散射电子衍射取向技术的应用／196
习题／199
第12章 电子探针显微镜
12.1电子探针仪的结构与工作原理／200
12.2波长分散谱仪／201
12.2.1工作原理／201
12.2.2分析方法／203
12.3能量分散谱仪／204
12.3.1工作原理／204
12.3.2能谱仪成分分析的特点／205
12.4电子探针仪的分析方法／206
12.4.1定性分析／206
12.4.2定量分析简介／208
习题／208
第3篇 材料物理性能分析
第13章 材料的声学性能
13.1声波的基本性质和物理量／21l
13.1.1机械振动与弹性波／211
13.1.2小振幅声波在理想介质中的传播规律／213
13.1.3弹性波与介质的相互作用规律／218
13.1.4弹性波在介质中的非线性行为／228
13.1 5功率超声与液体介质的超声空化／233
13.2材料声学性能的物理本质和影响因素／239
13.2.1声速及其影响因素／239
13.2.2声衰减系数及其影响因素／241
13.2.3声阻抗率及其影响因素／245
13.2.4声波的非线性参量及其影响因素／245
13.2.5液体介质的超声空化阈及其影响因素／247
13.3材料声学性能的测试方法及其应用／249
13.3.1材料声学性能的测试方法介绍／249
13.3.2声学性能在材料研究中的应用／254
习题／267
第14章 材料的热学性能
14.1热分析／268
14.1.1热焓和比热容的测量及热分析法／268
14.1.2热分析应用／272
14.2热膨胀分析／286
14.2.1热膨胀的测量及线膨胀系数的测定／286
14.2.2热膨胀分析的应用／291
14.3热传导／308
14.3.1材料的导热性及热导率、热扩散率和热阻／308
14.3.2热导率的测量及应用／309
14.4热电性／311
14.4.1金属的热电效应／311
14.4.2热电势的测量／313
14.4.3热电性分析方法的应用／315
14.4.4热电性分析在测温上的应用／318
习题／319
附录1质量吸收系数μ1／ρ ／320
附录2原子散射因数／／321
附录3各种点阵的结构因数f2hkl／322
附录4粉末法的多重性因数phkr ／322
附录5角因数／323
附录6德拜函数／325
附录7某些物质的特征温度@／325
附录8
附录9常用金属材料应力测定常数／327
附录10常见晶体标准电子衍射花样／328
参考文献／332