(特价书)电子系统测试原理

.2．2 物理缺陷
2．3 故障模式
2．4 故障
2．5 固定型故障
2．6 故障列表
2．7 桥接故障
2．8 短路和开路故障
2．9 时延故障
2．10 暂时失效
2．11 噪声失效
参考文献
习题
第3章 设计表示
3．1 抽象级
3．2 数学方程
3．3 列表格式
3．4 图形表示
3．5 图
3．6 二叉判断图
3．7 网表
3．8 硬件描述语言
参考文献
习题
第4章 vlsi设计流程
4．1 简介
4．2 cad工具
4．3 算法
4．4 综合
4．5 设计方法
4．6 半定制设计
4．7 物理设计
参考文献
习题
第11部分 测试流程
第5章 测试中模拟的角色
5．1 简介
5．2 大型设计的模拟
5．3 逻辑模拟
5．4 模拟方法
5．5 时间模型
5．6 故障模拟
5．7 故障模拟结果
参考文献
习题
第6章 自动测试码生成
6．1 简介
6．2 术语和符号
6．3 d算法
6．4 临界路径
6．5 回溯和扇出重汇聚
6．6 podem
6．7 其他算法
6．8 时序电路测试
参考文献
习题
第7章 电流测试
7．1 简介
7．2 基本概念
7．3 无故障电流
7．4 电流感应技术
7．5 故障检测
7．6 测试码生成
7．7 深亚微级技术的影响
参考文献
习题
第iii部分 易测试性设计..
第8章 专用技术
8．1 简介
8．2 dft的内容
8．3 易测试性分析
8．4 初始化及测试点
8．5 易测试性划分
8．6 易测试的电路
参考文献
习题
第9章 路径扫描设计
9．1 简介
9．2 路径扫描设计
9．3 测试码产生
9．4 测试码应用
9．5 路径扫描设计的例子
9．6 存储设备
9．7 扫描结构
9．8 多级扫描链
9．9 路径扫描设计的代价
9．10 部分扫描测试
9．11 调整扫描链上的触发器
参考文献
习题
第10章 边界扫描测试
10．1 简介
10．2 传统电路板测试
10．3 边界扫描体系结构
10．4 测试访问端口
10．5 寄存器
10．6 tap控制器
10．7 操作模式
10．8 边界扫描语言
10．9 边界扫描设计的代价
10．10 进一步研究
参考文献
习题
第11章 内建自测试
11．1 简介
11．2 伪随机测试码生成
11．3 响应压缩
11．4 抗随机码故障
11．5 bist结构
参考文献
习题
第iv部分 特殊结构
第12章 存储器测试
12．1 动机
12．2 存储器模型
12．3 缺陷和故障模型
12．4 存储器测试类型
12．5 功能测试方案
12．6 存储器bist
12．7 存储器诊断与维修
参考文献
习题
第13章 fpga与微处理器的测试
13．1 简介
13．2 fpga
13．3 fpga的易测试性
13．4 基于ram的fpga的测试
13．5 微处理器
13．6 微处理器的测试
13．7 现代微处理器中的dft特性
参考文献
习题
第v部分高级论题
第14章 易测试性综合
14．1 简介
14．2 易测试性相关内容
14．3 综合回顾
14．4 高级综合
14．5 测试综合方法
参考文献
习题
第15章 soc测试
15．1 简介
15．2 核的分类
15．3 设计与测试流程
15．4 内核测试需求
15．5 测试体系结构的概念
15．6 测试策略
15．7 进一步研究
参考文献
习题
附录a 参考书目
附录b 缩写词表...