(特价书)数字集成电路嵌入式内核系统的测试设计（含光盘）

.2.5 延时故障介绍
2.6 基于电流的故障介绍
2.7 可测性和故障分析方法
2.8 故障的屏蔽
2.9 固定故障等效
2.10 固定故障的atpg
2.11 跳变延时故障的atpg
2.12 路径延时故障的atpg
2.13 基于电流故障的atpg
2.14 组合与时序电路的atpg
2.15 向量模拟
2.16 atpg向量
2.17 基于atpg的设计规则
2.18 选择atpgt具
2.19 atpg基本规则的小结
2.20 推荐的参考读物
第3章 扫描结构和技术
3.1 简介
3.2 功能测试
3.3 扫描效果电路
3.4 多路选择d(mux-d)类型的扫描触发器
3.5 广泛应用的mux-d扫描触发器
3.6 扫描移位寄存器或扫描链
3.7 扫描单元操作
3.8 扫描测试的排序
3.9 扫描测试的定时
3.10 可靠的扫描移位
3.11 可靠的扫描采样：无竞争向量
3.12 部分扫描
3.13 多扫描链
3.14 借用的扫描接口
3.15 钟控、片上时钟源和扫描
3.16 基于扫描的设计规则
3.17 固定故障(dc)的扫描插入
3.18 固定故障的扫描诊断
3.19 全速扫描(ac)测试目标
3.20 全速扫描测试
3.21 全速扫描结构
3.22 全速扫描接口
3.23 多时钟与扫描域操作
3.24 扫描插入与时钟时差
3.25 全速扫描插入
3.26 全速扫描关键路径
3.27 基于扫描的逻辑内建自测试
3.28 扫描测试基础知识小结
3.29 推荐的参考读物
第4章 存储器测试结构与技术
4.1 简介
4.2 存储器类型
4.3 存储器组织..
4.4 存储器设计要点
4.5 存储器集成要点
4.6 嵌入式存储器测试方法
4.7 基本的存储器测试模型
4.8 基于固定位元的故障模型
4.9 基于桥接缺陷的故障模型
4.10 译码故障的模型
4.11 数据保存故障
4.12 诊断位映射
4.13 算法测试生成
4.14 具有扫描测试的存储器交互作用
4.15 扫描测试中的存储器建模
4.16 扫描测试中的存储器黑匣模型
4.17 扫描测试存储器透明技术
4.18 扫描测试存储器伪装字技术
4.19 mbist的存储器测试要点
4.20 存储器内建自测试要求
4.21 存储器bist实例
4.22 mbist芯片集成问题
4.23 mbist集成要关注的因素
4.24 mbist功率的关注因素
4.25 使用lfsr的mbist设计
4.26 基于移位的存储器bist
4.27 只读存储器的内建自测试
4.28 储存器测试小结
4.29 推荐的参考读物
第5章 嵌入式内核测试的基本原理
5.1 简介
5.2 什么是内核
5.3 什么是基于内核的设计
5.4 可重用内核的发布
5.5 内核dft要点
5.6 可重用内核的开发
5.7 dft接口要点——测试信号
5.8 内核的dft接口要点——测试访问
5.9 dft接口要点——测试外壳
5.10 用寄存器隔离测试外壳
5.11 位片隔离测试外壳
5.12 分立的测试外壳——位片单元
5.13 分立的测试外壳——内核dft接口
5.14 内核测试模式的默认值
5.15 dft接口外壳要点
5.16 dft接口要点——测试频率
5.17 内核的可测性开发
5.18 内核测试经济学
5.19 基于内核的芯片设计
5.20 对所隔离的内核进行扫描测试
5.21 非内核逻辑的扫描测试
5.22 用户定义逻辑的芯片级dft要点
5.23 具有bist的存储器测试
5.24 芯片级dft集成要求
5.25 嵌入式测试程序
5.26 内核的选取与接收
5.27 嵌入式内核dft小结
5.28 推荐的参考读物
术语表
随书光盘介绍...