
| 《集成电路导论(第2版)》 第1章绪言 1.1什么是半导体器件 1.2什么是集成电路和微电子学 1.3集成电路的诞生 1.4集成电路的发展 1.5集成电路的未来 1.6微电子技术与其他学科相结合 第2章半导体基本特性与pn结 2.1半导体的特性 2.2量子力学简介 2.3pn结 2.4欧姆接触 第3章晶体管工作原理 3.1极管 3.2双极型晶体管 3.3金属—氧化物—半导体场效应晶体管 第4章集成电路中的器件结构 4.1电学隔离的必要性和方法 4.2极管的结构 .4.3x2极型晶体管的结构 4.4mos场效应晶体管的结构 4.5电阻的结构 4.6电容的结构 4.7接触孔、通孔和互连线 第5章集成电路芯片制造技术 5.1艺制造中的核心步骤 5.2窗口、图形的确定与掩模版的作用 5.3各主要工艺技术 5.4cmos电路制造的主要工艺流程 5.5缺陷与成品率 第6章数字电路中的基本门电路 6.1数字信号的特性 6.2电路的主要性能 6.3双极型晶体管的开关特性 6.4饱和型与非饱和型双极型数字集成电路 6.5晶体管—晶体管逻辑(ttl)门 6.6肖特基晶体管—晶体管逻辑(sttl)门 6.7发射极耦合逻辑(ecl)门 6.8nmos门电路 6.9cmos门电路 6.11bicmos电路 第7章存储器类集成电路 7.1存储器的功能和分类 7.2存储器的容量 7.3存储器的结构 7.4只读存储器 7.5不挥发性读写存储器 7.6随机存取存储器 第8章微处理器 8.1微处理器的定义 8.2微型计算机与微处理器 8.3微处理器的工作原理 8.4微处理器中的各个模块 8.5微控制器 第9章模拟集成电路中的基本单元 9.1模拟信号的特性 9.2模拟集成电路的特点 9.3差分放大器 9.4恒流源和恒压源 9.5模拟集成电路中的无源元件 第10章集成运算放大器 10.1集成运算放大器的功能和结构 10.2集成运算放大器的主要电学参数 10.3集成运算放大器的输入级 10.4集成运算放大器的输出级 10.5双极型集成运算放大器 10.6mos型集成运算放大器 第11章数据转换器 11.1数据转换器在信号系统中的作用 11.2d/a转换器的基本原理 11.3d/a转换器的基本类型 11.4a/d转换器的基本原理 11.5a/d转换器的基本类型 第12章专用集成电路和可编程集成电路 12.1专用集成电路的作用与特点 12.2门阵列集成电路 12.3标准单元集成电路 12.4多设计项目硅圆片方法 12.5可编程逻辑器件 12.6逻辑单元阵列 12.7门阵列、标准单元ic与可编程集成电路的比较 第13章设计流程和设计工具 13.1设计要求 13.2层次化设计方法 13.3数字电路设计流程 13.4版图设计规则 13.5设计系统简介 13.6常用的设计工具 13.7数字电路设计实例——交通路口信号灯控制器 13.8模拟集成电路设计流程 第14章集成电路的测试与封装 14.1集成电路测试 14.2故障模型 14.3故障模拟与分析 14.4可测性设计 14.5集成电路的可靠性 14.6典型的测试和检查过程 14.7封装的作用 14.8封装类型和封装技术 14.9sip封装 14.10封装时的热设计 14.11如何选择封装形式 中外文参考书 参考文献 |
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