| 《电子系统测试原理》全面阐述了电子系统测试原理，共分为五个部分，第1部分介绍《电子系统测试原理》的目的、电子产品的缺陷种类、VLSI设计表示与设计流程；第II部分介绍故障模拟、测试码产生及电流测试方法；第III部分讨论易测性设计问题，分别介绍专用技术、路径扫描设计、边界扫描测试和内建自测试技术；第IV部分介绍特殊结构的测试，包括存储器、FPGA和微处理器的测试；第v部分涉及当前电子系统测试领域中的前沿问题，包括如何实现易测试性结构和进行SOC试。 《电子系统测试原理》可作为电子信息类专业研究生教材和IC测试工程技术人员的参考书。 |
| Samiha Mourad博士是加利福尼亚圣克拉拉大学电子工程系教授。Yervant Zorian博士是加利福尼亚圣何塞Logic Vision公司的首席技术顾问。 |
| 第I部分 设计与测试 第1章 测试综述 1.1 可靠性与测试 1.2 设计过程 1.3 验证 1.3.1 功能模拟 1.3.2 时间模拟 1.4 测试 1.5 故障及其检测 1.6 测试码生成 1.7 故障覆盖率 1.8 测试类型 1.8.1 穷举测试 1.8.2 伪穷举测试 1.8.3 伪随机测试 1.8.4 确定性测试 1.9 测试应用 1.9.1 在线测试与离线测试 1.9.2 自动测试仪器 1.9.3 片上测试与片外测试 1.10 易测试性设计 1.10.1 可控性 1.10.2 可观察性 1.11 测试经济 1.11.1 收益和缺陷级 1.11.2 故障覆盖率和缺陷级别 1.12 进一步研究 参考文献 习题 第2章 缺陷、失效和故障 2.1 简介 2.2 物理缺陷 2.2.1 材料过多和缺失 2.2.2 氧化物断裂 2.2.3 电迁移 2.3 故障模式 2.3.1 开路 2.3.2 短路 2.4 故障 2.5 固定型故障 2.5.1 单固定型故障 2.5.2 多固定故障 2.6 故障列表 2.6.1 等价关系 2.6.2 支配关系 2.6.3 故障精简 2.7 桥接故障 2.8 短路和开路故障 2.8.1 NMOS电路 2.8.2 CMOS电路 2.9 时延故障 2.10 暂时失效 2.10.1 瞬时故障 2.10.2 间歇故障 2.11 噪声失效 参考文献 习题 第3章 设计表示 第4章 VLSI设计流程 第II部分 测试流程 第5章 测试中模拟的角色 第6章 自动测试码生成 第7章 电流测试 第III部分 易测试性设计 第8章 专用技术 第9章 路径扫描设计 第10章 边界扫描测试 第11章 内建自测试 第IV部分 特殊结构 第12章 存储器测试 第13章 FPGA与微处理器的测试 第V部分 高级论题 第14章 易测试性综合 第15章 SOC测试 附录A 参考书目 附录B 缩写词表 |
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