| 序 前言 1 实验基础知识 1．1概述 1．2常用半导体电子元器件的识别与简单测试 1．3常用电子仪器及其测量技术的简单介绍 1．4测量误差及数据处理 1．5电子电路的安装与调试 2 逻辑门应用实验 2．1TTL集成逻辑门参数的测试实验 2．2集电极开路门电路及三态门电路的研究实验 2．3CMoS传输门应用实验 3 组合电路应用实验 3．1用小规模集成电路进行组合逻辑电路设计实验 3．2字符编码显示电路实验 3．3编码器和译码器实验 3．4数据选择器应用实验 3．5数据选择器和数据分配器应用实验 3．6组合逻辑电路冒险现象遇见的研究实验 4 时序电路应用实验 4．1触发器基本功能测试实验 4．2同步时序电路逻辑设计实验 4．3变速时钟发生器实验 4．4任意进制分频器实验 4．5集成移位寄存器应用实验 5 脉冲信号产生与整形实验 5．1基本门电路产生脉冲信号实验 5．2集成单稳触发器应用实验 5．3集成施密特触发器应用实验 5．4555定时器典型应用实验 5．5555定时器兴趣实验 6 数模转换和模数转换实验 6．1D／A转换实验 6．2数据采集原理(A／D)实验 6．3数模转换器应用实验 7 综合实验 7．1报时式数字时钟制作实验 7．2按键扫描编码显示电路实验 7．3数字式电容测试仪制作实验 7．4生理刺激反应时间测试仪制作实验 附录1 常用逻辑器件索引表 附录2 部分集成逻辑器件型号对照表 附录3 部分集成器件管脚与功能 附录4 部分CMOS集成器件管脚与功能 参考文献 |
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