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可靠性试验

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可靠性试验

最 低 价：￥38.30

定 价：￥45.00

作 者：刘明治 著

出 版 社：电子工业出版社

出版时间：2004-01-01

I S B N：9787121002106

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    内容简介
    　　本书是“电子元器件质量与可靠性技术”丛书之一。本书在介绍电子元器件可靠性的必要性及基本概念的基础上，详细介绍了电子元器件的主要可靠性试验和通用的基本可靠性试验的原理、常用设备及操作程序，进而介绍了电子元器件可靠性试验的设计及技术问题。目的在于提高电子元器件可靠性试验的水平及技术。
    　　本书为电子元器件质量与可靠性技术培训教材，对从事质量与可靠性工作的技术人员和管理人员是一本实用的参考书。

    作者简介
    　　

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