| 本书以电阻率测量中广泛使用的探针技术为对象，对电阻率测试中许多理论问题作了深入讨论，如静电场有限元理论、图形变换理论、镜像源理论、互易定理及其证明，为创造新的测试法打下坚实基础。 |
| 1 绪论 1.1 电阻率测试对半导体材料与器件的重要 1.2 电阻率测试对工业领域的重要性 1.3 电阻率测试对地质物探领域的莺要性 1.4 电阻率测试对医学领域的重要性 1.4.1 脑中风的检测与监护 1.4.2 肺梗塞的诊断 1.4.3 乳腺肿瘤的诊断 1.4.4 其他应用 2 四探针法电阻率测量基本原理 3 静电场数值计算有限元方法 4 范德堡法及其改进法电阻率测量基本原理 5 鲁美采夫斯基法及其改进法电阻率测量基本原理 6 电阻率maing技术 7 电阻率测试的eit技术 8 外延片的电阻率测试 9 接触电阻的测量 10 电阻率测试的测准条件 参考文献 |
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