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微束分析 扫描电子显微术 术语

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微束分析 扫描电子显微术 术语

最 低 价：￥25.20

定 价：￥30.00

作 者：本社 主编 著

出 版 社：中国标准出版社

出版时间：2009-7-1

I S B N：GB/T23414-2009

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    编辑推荐

    内容简介
    　　本标准等同采用国际标准ISO22493：2008《微束分析扫描电子显微术术语》(英文版)。
    　　为了便于使用，本标准做了下列编辑性修改：
    　　——“本国际标准”一词改为“本标准”；
    　　——删除国际标准的前言。
    　　——“扫描电子显微镜”简称“扫描电镜”。
    　　——增加了中文索引。
    　　本标准由全国微束分析标准化技术委员会提出并归口。
    　　本标准起草单位：中国科学院上海硅酸盐研究所。
    　　本标准主要起草人：李香庭、曾毅。

    作者简介

    目录
    前言
    引言
    1 范围
    2 缩略语
    3 SEM物理基础术语
    4 SEM仪器术语
    5 SEM成像和图像处理术语
    6 SEM图像诠释和分析术语
    7 SEM图像放大倍率和分辨率校正及测量术语
    参考文献
    中文索引
    英文索引

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