| 第1章 扫描探针及扫描力显微镜简介 1.1 扫描隧道显微镜 1.2 原子力显微镜 1.3 磁力显微镜 1.4 横向力显微镜 1.5 其他SPM技术 1.6 SPM表面分析的手段 1.7 SPM工作环境 第2章 STM和SFM的统一微扰理论 2.1 统一微扰理论的产生原因 2.2 改进的Bardeen近似法 参考文献 第3章 针尖-样品相互作用理论 3.1 针尖-样品相互作用 3.2 长程力（范德瓦尔斯力） 3.3 相互作用能（黏结能） 3.4 短程力 3.5 形变 3.6 原子传输 3.7 由针尖引发的电子结构变化 3.8 挤压效应 3.9 隧穿向弹道传输的转变 参考文献 第4章 针尖-样品相互作用的分子动力学模拟 4.1 算法 4.2 研究特例 参考文献 第5章 弹性介质接触式扫描力显微技术 5.1 层状材料的连续弹性体理论 5.2 SIW和弹性介质间的相互作用 5.3 局域抗弯刚度 参考文献 第6章 原子尺度的摩擦理论 6.1 摩擦力的微观起源 6.2 理想化的摩擦力学 6.3 摩擦力的模拟计算 6.4 扫描力显微镜无损针尖-基底相互作用的限制 参考文献 第7章 非接触力显微技术理论 7.1 分析方法简介 7.2 范德瓦尔斯力 7.3 离子力 7.4 少量分子的挤压：溶解力 7.5 毛细力 7.6 结论 参考文献 |
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