| 前言 第1章 数字电子技术实验基础知识 1.1 数字电子技术实验的基本过程 1.2 数字电子设备常见故障检修方法 第2章 组合逻辑电路 2.1 TTL集成逻辑门的逻辑功能与参数测试 2.1.1 TTL集成逻辑门的基本知识 2.1.2 实验部分 2.2 CMOS集成逻辑门的逻辑功能与参数测试 2.2.1 CMOS集成逻辑门的基本知识 2.2.2 实验部分 2.3 TTL集电极开路门与三态输出门的应用 2.3.1 TTL集电极开路门与三态输出门的基本知识 2.3.2 实验部分 2.4 加法器的设计 2.4.1 加法器的基本知识 2.4.2 实验部分 2.5 一般组合逻辑电路的设计 2.5.1 一般组合逻辑电路的设计方法及其竞争冒险的消除 2.5.2 实验部分 2.6 数据选择器 2.6.1 数据选择器的基本知识 2.6.2 实验部分 第3章 时序逻辑电路 3.1 触发器及应用 3.1.1 触发器 3.1.2 触发器应用实验 3.2 计数器及应用 3.2.1 计数器 3.2.2 计数器应用实验 3.3 移位寄存器及应用 3.3.1 数码寄存器与移位寄存器 3.3.2 移位寄存器应用实验 第4章 脉冲波形的产生和整形电路 4.1 555定时器及其应用 4.1.1 555定时器 4.1.2 施密特触发器 4.1.3 单稳态触发器 4.1.4 多谐振荡器 4.2 555定时器及应用实验 第5章 D／A、A／D转换器及其应用 5.1 D／A、A／D转换器 5.1.1 D／A转换器 5.1.2 A／D转换器 5.2 D／A和A／D转换器实验 第6章 综合设计实验 6.1 电子秒表 6.2 数控步进电动机 附录 部分TTL及CMoS集成电路的引脚排列 参考文献 |
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