数字集成电路与嵌入式内核系统可测试性设计(影印版)

书中包括的索引使你能够根据自己的需要，直接阅读你所关注的内容。主要内容包括：设计核心，关注嵌入核心和嵌入存储器；系统集成和超大规模集成电路的设计问题；AC扫描、正常速度扫描和嵌入式可测试性设计；内建、自测试、含内存BIST、逻辑BIST及扫描BIST；虚拟测试套接字和隔离测试
·重用设计，包括重用和隔离测试；用VSIA和IEEE P1500标准处理测试问题。
书中穿插的整幅图解直接来自作者的教学材料。通过为书中的第一部分列出流程图、工程图表和内容接要，使得读者能够更快更容易地学习和查找。本书是与设计和测试工作相关的工程师和管理员所备的资料书籍。