《微电子计量测试技术》由西北工业大学出版社出版。 |
沈森祖，男，浙江省桐乡市人，研究员。原任国防微电子一级计量站常务副站长，中船重工集团公司第七○九所第六研究室主任兼微电子测试校准实验室首席执行者。1977年毕业于南开大学数学系，进所后从事操作系统研究工作，1983年起负责微电子测试研究。在主持检测、计量工作的25年中，用软件工程和可测性设计的思想和方法开发测试程序，解决测试程序开发中的规范管理和可靠性验证。解决过PLD自动测试操作平台设计模拟算法、自动生成和无网卡异种机互连互操作等关键技术。在微电子计量技术，测试程序的.. << 查看详细 |
| 第一部分 基本概念 第1章 微电子计量测试的基本概念 1.1 微电子计量的基本概念 1.2 微电子测试的基本概念 第二部分 微电子计量技术 第2章 微电子测试设备的计量技术 2.1 综述 2.2 微电子测试设备的计量检定技术 参考文献 第3章 微电子标准样片的制备、维护和应用技术 3.1 综述 3.2 微电子数字器件标准样片的制备技术 参考文献 第4章 微电子器件参数的计量检定技术 4.1 综述 4.2 微电子器件参数的计量检定技术 参考文献 第三部分 微电子测试技术 第5章 微电子测试技术 5.1 综述 .5.2 微电子测试技术 5.3 微电子测试的操作规范 参考文献 第6章 十大专用的测试技术 6.1 内建自测试 6.2 iddq参数测试 6.3 iddt参数测试 6.4 存储器测试 6.5 微处理器测试 6.6 pld芯片测试 6.7 fpga测试 6.8 dsp测试 6.9 soc测试 6.10 边界扫描测试 参考文献 第四部分 微电于测试设备 第7章 微电子测试设备 7.1 微电子测试设备发展历史 7.2 我国使用的通用主流机 参考文献 第五部分 微电子测试程序设计开发技术 第8章 测试软件设计开发技术 8.1 综述 8.2 测试软件设计开发技术 参考文献 第9章 测试程序开发的质量保障技术 9.1 综述 9.2 测试程序开发的质量保障技术 参考文献 第10章 asic器件的自动测试与自动测试程序生成(atpg)技术 10.1 综述 10.2 asic器件的自动测试与atpg技术平台 第11章 测试程序的软件测试和验证技术 11.1 综述 11.2 微电子测试程序质量验证的发展历史 11.3 微电子测试程序的软件自动测试 11.4 发展方向 |
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