粉末衍射法测定晶体结构(上下)

《粉末衍射法测定晶体结构(上下)》：晶体结构是了解固体材料性质的重要基础，X射线粉末衍射法是提供有关晶体结构信息的主要方法之一。《粉末衍射法测定晶体结构(上下)》除了扼要介绍X射线衍射的晶体学基础，化合物结构的晶体化学基本概念，X射线粉末衍射的实验方法，以及衍射线的位置和峰形及强度的测定外，比较系统全面地论述了粉末衍 射图谱的指标化，点阵常数的精确测量，粉末衍射测定新型化合物晶体结构的各种方法及里特沃尔德法修正晶体结构，固溶体类型与超结构的测定，以及键价理论在离子晶体结构分析中的应用。重点阐述粉末衍射结构分析从头计算方法。