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作 者:Dvid j﹒Sellmyer/D﹒shindo/(美)David J. Sellmyer (美)Yi Liu (美)D. Shindo 著
出 版 社:清华大学出版社
出版时间:2005-07
I S B N:7302087016
| 原子磁矩和巡回磁模型的建立垫定了我们对磁性的理解。记算是有效的方法来验正理论及予测新性能。在此过程中建立模型和其边界条件需要对材料的几何形状,结构和性能进行准确的测量。第2卷收集总结磁性理论、 模拟、结构和性能的测量的最新成果。 |
| Forward Preface List of Contributors 1 Adanced Magnetic Force Microscopy Tips for Imaging Domains 1.1 Introduction1 1.2 Magnetic Force Microscopy 1.2.1 Basic Operating Principles of MFM 1.2.2 Force Gradient Detection 1.2.3 Sensitivity and Resolution 1.2.4 Tip\|Sample Interaction4 1.2.5 Force Sensor 1.3 Development of Advanced MFM Tips 1.3.1 High Coercivity CoPt MFM Tips 1.3.2 Superparamagnetic and Low Stray Magnetic Field MFM Tips 1.3.3 Electron\|Beam\|Induced\|Deposited (EBID)MFM Tips 1.3.4 oint\|Dipole MFM Tips 1.3.5 ocused Ion Beam Milling MFM Tips References 2 Lorentz Microscopy and Holography Characterization of Magnetic Materials 2. |
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