电子元器件可靠性设计

. 1.5 电子元器件失效分析的基本技术
1.5.1 失效分析基础技术
1.5.2 失效信息统计分析的基本方法
1.6 电子元器件可靠性设计技术
1.6.1耐高、低温设计技术
1.6.2 耐热设计技术
1.6.3 耐电应力设计
1.6.4抗机械应力设计技术
1.6.5 稳定性设计
1.6.6 三防设计技术
1.6.7抗辐射环境设计技术
1.6.8 控制低气压失效的可靠性设计
1.6.9 防误操作设计技术
1.6.10 消除寄生元器件和潜在通路设计
1.6.11 最坏情况设计技术
1.6.12 优化设计技术
1.7 电子元器件可靠性设计阶段的可靠性控制技术
1.7.1 基本概念
1.7.2 控制的作用
1.7.3 控制内容与方法
1.8小 结
参考文献
第2章单片集成电路可靠性设计
2.1 单片集成电路的类别和设计特点
2.1.1 类 别
2.1.2 设计特点
2.2 单片集成电路可靠性设计的基本要求和主要内容
2.2.1 基本要求
2.2.2 主要内容
2.3 单片集成电路可靠性设计的基本技术
2.3.1 电性能稳定性设计
2.3.2 输出保护电路
2.3.3 输入保护电路
2.4 单片集成电路版图的可靠性设计技术
2.4.1 对称性设计方法
……
第3章　混合集成电路可靠性设计与控制
第4章　半导体分立器件可靠性设计
第5章　连接器可靠性设计
第6章　继电器可靠性设计
第7章　电容器可靠性设计
第8章　微特电机可靠性设计
第9章　声表面波器件可靠性设计
后记