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VLSI与数字信号处理

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VLSI与数字信号处理

最 低 价:¥7.90

定 价:¥22.50

作 者:(日)谷萩隆嗣 编

出 版 社:科学出版社

出版时间:2003-09

I S B N:7030113748

价格
7.90元

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内容简介

本书是“数字信号处理参考教材系列”之一。该系列共分三部分,即基础部分、提高部分和应用部分。本书属于应用部分。
    书中首先从数字信号处理角度阐述硬件的基础知识,其次详细介绍数字信号处理中使用的主要硬件、数字电路的高可靠性与VLSI的测试、VLSI的设计技术以及LSI的设计实例,最后介绍VLSI的封装技术等。
    本书可作为大学相关专业的本科生及研究生的教材或参考用书,亦可供相关领域的技术人员及研究人员参考。

作者简介

目录


第1章信号处理中的数字电路基础
1.1组合电路
1.1.1基本门电路
1.1.2与或(ANI)-OR)门型电路
1.1.3或与(OR-AND)门型电路
1.2时序电路
1.2.1时序电路的概念
1.2.2时序电路的表达
1.2.3触发器
1.2.4时序电路的构成
第2章数字信号处理中的基本电路
2.1加减法器
2.1.1二进制加法器
2.1.2串行进位加法器
2.1.3超前进位加法器
2.1.4二进制加减法器
2.2乘法器
2.2.1乘法计算的原理
2.2.2二进制数的乘法电路
2.3比较器
2.3.1比较器的原理
2.3.2比较器的构成
2.4编码器与译码器
2.4.1编码器
2.4.2译码器
2.5 A-D转换器与nA转换器
2.5.1A-D转换器
2.5.2D-A转换器
第3章VLSI设计技术概要
3.1VLSI概要
3.2专用集成电路(ASIC)
3.2.1ASIC的概念
3.2.2门阵列
3.2.3标准单元芯片
3.2.4宏单元芯片
3.2.5预置降列
3.2.6全定制器件
3.2.7现场可编程器件
3.3 VLSI设计技术
3.3.1设计技术概要
3.3.2各项设计技术
第4章数字电路的高可靠性与vLsI的测试
4.1数字电路高可靠性的概念
4.1.1高可靠性的基本概念
4.1.2故障容错技术
4.1.3缺陷容错技术
4.2VLSI的测试生成技术
4.2.1单固定退化故障测试
4.2.2CMOS门的固定断路故障测试
4.2.3延迟故障测试
4.2.4时序电路的测试
4.2.5存储器的测试
4.3 VLSI的可测试性设计
4.3.1扫描路径法
4.3.2BIST法
4.3.3边界扫描法
第5章数字信号处理器与信号处理
5.1数字信号处理器的概要
5.2数字信号处理器的构造
5.3数字信号处理器的特殊功能
5.4数字信号处理器的内部构成
5.5数字信号处理器的设计
5.5.1逻辑LSI的设计流程
5.5.2假想DSP核心的基本设计
5.5.3假想DSP核心的数据路径的设计
5.5.4假想DSP核心的控制电路的设计
第6章并行处理用VLSI的构造
6.1矢量处理器
6.1.1矢量处理器的概念

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