| 目〓〓录第1章〓概论1.1〓可靠性历史与发展1.1.冷兵器时期1.1.2〓热兵器时期1.1.3〓高技术兵器时期1.1.4〓我国可靠性工作的历史和现状1.2〓当代质量观与可靠性1.3〓可靠性基本概念1.3.1〓机环关系1.3.2〓人机关系1.4〓可靠性工作主要内容1.5〓系统可靠性与元器件工程第2章〓系统研制与生产各阶段中元器件工程项目2.1〓论证阶段2.2〓方案阶段2.3〓工程研制阶段2.4〓设计定型阶段2.5〓生产定型阶段第3章〓电子元器件选用与控制3.1〓概述3.2〓电子元器件选择和应用3.2.1〓电子元器件选用准则3.2.2〓半导体集成电路的选择和应用3.2.3〓半导体分立器件的选择和应用3.2.4〓电阻器选择和应用3.2.5〓电容器选择和应用3.3〓电子元器件控制3.3.1〓元器件选择3.3.2〓元器件采购3.3.3〓元器件监制3.3.4〓元器件验收3.3.5〓元器件筛选3.3.6〓元器件储存与保管3.3.7〓元器件超期复验3.3.8〓元器件使用3.3.9〓元器件失效分析3.3.10〓元器件信息管理3.4〓电子元器件管理3.4.1〓电子元器件管理基本方法3.4.2〓优选电子元器件生产厂家及动态管理第4章〓电子元器件可靠性数学表征4.1〓可靠性的定义4.2〓可靠度4.3〓累积失效概率4.4〓失效分布密度4.5〓失效率4.6〓寿命4.6.1〓平均寿命4.6.2〓可靠寿命4.6.3〓中位寿命4.6.4〓特征寿命 4.7〓通用的失效分布函数4.7.1〓指数分布4.7.2〓正态分布4.7.3〓威布尔分布第5章〓电子元器件失效分析技术5.1〓光学显微镜分析技术5.1.1〓明、暗场观察5.1.2〓微分干涉相衬观察5.1.3〓偏振光干涉法观察5.2〓红外显微镜分析技术5.3〓红外热像仪分析技术5.3.1〓基本测量结构5.3.2〓主要技术指标5.3.3〓显微红外热像仪的应用5.4〓声学显微镜分析技术5.4.1〓SLAM的应用5.4.2〓CSAM的应用5.5〓液晶热点检测技术5.5.1〓液晶热点检测设 |
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